工研院材化所研究員
講者：羅聖全 博士 
主題：電鏡檢測技術在奈米、能源與生醫材料上之發展與應用
日期：100.04.26(二)PM13:10~15:00
主持人：胡蒨傑
本次演講主題與研究上息息相關，介紹了SEM、TEM，(Scanning Electron Microscopy,SEM)掃瞄式電子顯微鏡主要用來觀察物體之表面及截面狀態，其影像解析度極高，放大倍率可達數萬倍以上，而傳統光學顯微鏡只有一千五百倍左右，故其能清晰觀察膜材表面及截面結構型態。SEM、TEM適用的對象包含電子工業、化工產業、冶金工業、傳統分析及特殊應用等，是用來檢測奈米、能源以及生醫材料的結構。給材料工業帶來許多的幫助。